我们一直在讨论如何用扔棍法测量一根棍子的长度。因为这个方法需要大量的重复实验，现实可行性很小，跟其它提高测量精度的方法相比没有优势。但是这是一个从根本上就是统计的方法，用来做大量物体的统计恰恰是它的优势。
假如我们用一个无限长的尺子，上面有相隔一米的sensors，来测量一个0.5米长的棍子。我们发现一半的时间没有任何信号，另一半的时间有一个sensor发出信号。发信号的几率，0.5，就是棍子长度和sensor间隔的比例。
但是今天的实验有些奇怪。别人在我们不知道的情况下把被测物体放进了测量的黑箱子。我们测出发信号的平均几率是0.5，但是信号的分布不是我们预期的一半0，一半1。1/4的时候，我们没测到任何信号，一半的时候我们测到一个信号，但是还有1/4的时候我们测到两个信号。这是怎么回事呢？一根0.5米长的棍子怎么可能同时盖住两个sensor呢？唯一合理的解释，就是里面有两根棍子，每根长0.25米。于是，如果我们不仅看总发信号几率，也看信号的分布，我们就能知道有几根棍子，而且每根棍子有多长。
Scanning statistical microscopy就是利用了这个原理。纳米技术领域，有时需要知道在物体表面上吸附了多少分子。这些分子的大小是纳米量级的，用光学显微镜很难分辨出来。而如果用分辨率高的电子显微镜或其它高分辨率工具，能看到的面积又太小，不容易做统计。于是，有科学家就发明了一个办法。他们拿一张黑纸(其实通常是某种塑料)，上面随机打了很多小孔，挡在光学显微镜前。因为吸附的分子亮度和衬底的亮度不同，分子正好在小孔下时，显微镜能看到明显的亮度变化，相当于扔棍法里sensor被棍子盖住时发出的信号。这里分子对应于棍子，小孔对应于sensor。把黑纸挪来挪去，记录下亮度变化的分布，就可以得出分子的大小和多少。这种办法可以测出10纳米大小的分子，比光学显微镜的分辨极限200纳米小了20倍。。