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中国工程物理研究院袁国火、徐曦、董秀成涉嫌抄袭国外论文

袁国火 徐 曦 董秀成 在2007年在《核电子学与探测技术》发表的《M T M 反熔
丝 F P G A 总剂量及加固技术》
涉嫌抄袭1999年的Total dose and SEE of metal-to-metal antifuse FPGA。

1999年原作：
Wang J J, Cronquist B, McCollum J, et al. Total dose and SEE of 
metal-to-metal antifuse FPGA[J]. Notes, 1999, 80(100): 120.
2007年涉嫌抄袭的论文：
袁国火, 徐曦, 董秀成. MTM 反熔丝 FPGA 总剂量及加固技术[J]. 核电子学与
探测技术, 2007, 27(1): 147-149.

其2007年全文中，涉及ONO反熔丝的部分是其自己做的，但大约只有两三段，剩
余MTM反熔丝的文段全部来自1999年的原文。
且其2007年文章的标题是MTM，结论也是MTM，就是说他把人家的成果拿来用，自
己的结果做陪衬比较。

虽然其2007年文章在其参考文献第二条中引用了1999年文章，但其文章中大部分
篇幅直接翻译自原文，甚至图都使用一样的，私以为这仍然属于抄袭。

2007年文章的第一第二第三作者的所属单位分别是：
中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳,621900;西华大学电气信息学院,成都,610039
中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳,621900
西华大学电气信息学院,成都,610039

(XYS20130531)

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