扔棍子测量法的应用实例之二:Scanning Statistical Microscopy


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送交者: james_hussein_bond 于 2011-01-08, 12:49:18:

原始文章在这儿:
http://www.sciencedirect.com/science?_ob=MImg&_imagekey=B94RW-4V8X9N2-H-1&_cdi=56421&_user=10&_pii=S0006349591821506&_coverDate=11%2F30%2F1991&_sk=%23TOC%2356421%231991%23999399994%23800085%23FLP%23display%23Volume_60,_Issue_5,_Pages_989-1305_%28November_1991%29%23tagged%23Volume%23first%3D60%23Issue%23first%3D5%23date%23%28November_1991%29%23&view=c&_gw=y&wchp=dGLzVzz-zSkWb&md5=77367240004c0e23c050f5d68640ad8e&ie=/sdarticle.pdf
基本想法是怎样用低分辨率的光学显微镜来测量纳米量级分子结构的密度。他们的办法是在一个mask上打大大小小很多随机分布的孔,然后随机移动mask,测量透过的光的强度。再用统计办法算出下面有多少分子。

用来测Si纳米洞的应用:
http://www.maik.ru/full/lasphys/03/5/lasphys5_03p675full.pdf




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